محققان روسی موسسه ذخیره‌سازی داده در دانشگاه A*STAR سنگاپور موفق به ارائه روشی نوین در طیف سنجی IR مبتنی بر در‌هم‌تنیدگی قطبشی فوتون‌ها شدند.
در این روش آنها به کمک فرآیند اپتیکیِ غیرخطیِ مرتبه‌ی دوم موسوم به SPDC، فوتون های در‌هم‌تنیده قطبشی در ناحیه مرئی و IR را تولید کردند، سپس با انتشار نور IR در نمونه مورد بررسی، تداخل غیرخطی فوتون‌های مرئیِ را ثبت کردند. اندازه‌گیری اُفت نمایانی و جا‌به‌جایی فریزهای تداخلی نور مرئی، به اندازه‌گیری ضریب شکست با دقت 6 رقم اعشار و ضریب جذب نمونه با دقت صدم در ناحیه IR می‌انجامد. نتایج این تحقیق در مجله نیچر به چاپ رسیده است.